氣派科技取得引線框架變形檢驗治具專利，快速檢驗出芯片載體是否變形

金融界2024年12月28日消息，國家知識產權局信息顯示，氣派科技股份有限公司取得一項名爲“一種引線框架變形檢驗治具”的專利，授權公告號CN 222211676 U，申請日期爲2024年5月。

專利摘要顯示，本實用新型公開一種引線框架變形檢驗治具，包括基座，基座上表面設有第一平面，第一平面可支撐引線框架上的引線腳並使引線腳在第一平面上直線滑動，第一平面的至少一側設有滑槽，滑槽的底部設有第二平面，第二平面可支撐引線框架上的芯片載體並使芯片載體在第二平面上直線滑動第二平面向下凹設有若干凹槽若干凹槽沿滑槽的延伸方向間隔設置，凹槽可供變形的芯片載體伸入，本實用新型利用引線框架左右移動是否順暢即可快速檢驗出芯片載體是否變形。

本文源自：金融界

作者：情報員