北京大學申請面向低質量數據集的硬盤故障預測及數據遷移方法專利，在低質量硬盤 SMART 的情況下，達到較高的硬盤故障預測準確率，並且能夠提前對瀕臨故障硬...

金融界 2024 年 9 月 18 日消息，天眼查知識產權信息顯示，天津理工大學,北京大學申請一項名爲“面向低質量數據集的硬盤故障預測及數據遷移方法“，公開號 CN202411153731.X，申請日期爲 2024 年 8 月。

專利摘要顯示，本發明提供了面向低質量數據集的硬盤故障預測及數據遷移方法，包括：獲取硬盤的 SMART 信息得到信息集，對信息集進行正負樣本重建，並將丟失數據的信息集作爲原始數據集；對原始數據集進行無用數據清理操作並進行欠採樣處理；對原始數據集進行缺失值填充，將缺失值填充後的原始數據集轉化爲時間序列數據；構建並訓練預測模型，將時間序列數據及對應的 ASFD 特徵輸入預測模型中得到硬盤故障的預測結果；根據預測結果識別瀕臨故障的硬盤，並基於二部圖最大匹配策略和修復調度策略完成對瀕臨故障硬盤數據的修復。本發明有益效果：在低質量硬盤 SMART 的情況下，達到較高的硬盤故障預測準確率，並且能夠提前對瀕臨故障硬盤的數據進行主動遷移和修復。

本文源自：金融界

作者：情報員